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Advanced Test Methods for Srams: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies (Paperback, 2010)
파트리크 지라르, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
Springer Verlag | 2014년 09월 | 2014년 09월
171,360원 (18% 할인 / 8,570원)
택배로 주문하면 11월 25일 출고 변경

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies (Hardcover) - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
파트리크 지라르, Alberto Bosio, Luigi Dilillo
Springer Verlag | 2009년 11월 | 2009년 11월
166,680원 (18% 할인 / 8,340원)
택배로 주문하면 11월 25일 출고 변경

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