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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Paperback, Softcover Repri)
Bashir M. Al-Hashimi, Nicola Nicolici
Springer | 2010년 12월 | 2010년 12월
155,780원 (18% 할인 / 7,790원)
택배로 주문하면 11월 25일 출고 변경

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Hardcover, 2003)
Bashir Al-Hashimi, Nicola Nicolici
Kluwer Academic Pub | 2003년 02월 | 2003년 02월
155,780원 (18% 할인 / 7,790원)
택배로 주문하면 11월 25일 출고 변경

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices (Paperback, 2010)
파트리크 지라르, Xiaoqing Wen, Nicola Nicolici (엮은이)
Springer | 2014년 09월 | 2014년 09월
171,360원 (18% 할인 / 8,570원)
택배로 주문하면 11월 25일 출고 변경

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices (Hardcover)
파트리크 지라르, Xiaoqing Wen, Nicola Nicolici (엮은이)
Springer Verlag | 2009년 11월 | 2009년 11월
250,040원 (18% 할인 / 12,510원)
택배로 주문하면 11월 25일 출고 변경

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