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Collaboration and Technology: 21st International Conference, Criwg 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings (Paperback, 2015)
Nelson Baloian, Yervant Zorian, Perouz Taslakian (엮은이)
Springer | 2015년 08월 | 2015년 08월
73,300원 (18% 할인 / 3,670원)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

Multi-Chip Module Test Strategies (Paperback, Softcover Repri)
Yervant Zorian (엮은이)
Springer | 2012년 10월 | 2012년 10월
152,700원 (18% 할인 / 7,640원)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

Embedded Processor-based Self-test (Paperback)
Dimitris Gizopoulos, Yervant Zorian, A. Paschalis
Springer | 2011년 12월 | 2011년 12월
229,060원 (18% 할인 / 11,460원)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

On-Line Testing for VLSI (Paperback)
Dhiraj K. Pradhan, Michael Nicolaidis, Yervant Zorian (엮은이)
Springer | 2010년 12월 | 2010년 12월
152,700원 (18% 할인 / 7,640원)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

[eBook Code] Principles of Testing Electronic Systems (eBook Code, 1st)
Yervant Zorian, Samiha Mourad
Wiley-Interscience | 2008년 05월 | 2008년 05월
197,190원 (20% 할인)
택배로 주문하면 9월 26일 출고 변경

On-Line Testing for VLSI (Hardcover, Reprinted from)
Michael Nicolaidis, Yervant Zorian (엮은이)
Kluwer Academic Pub | 1998년 04월 | 1998년 04월
152,700원 (18% 할인 / 7,640원)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

Principles of Testing Electronic Systems (Hardcover)
Yervant Zorian, Samiha Mourad
Wiley-Interscience | 2000년 07월 | 2000년 07월
252,650원 (18% 할인 / 12,640원)
택배로 주문하면 10월 10일 출고 변경

Multi-Chip Module Test Strategies (Hardcover)
Yervant Zorian (엮은이)
Kluwer Academic Pub | 1997년 05월 | 1997년 05월
152,700원 (18% 할인 / 7,640원)
택배로 주문하면 10월 17일 출고 변경

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